容性負(fù)載測試在電子設(shè)計中，運(yùn)算放大器作為一種最常見的元器件被工程師們應(yīng)用到各種信號調(diào)理電路中去。但是，當(dāng)設(shè)計中沒有足夠的裕量支持運(yùn)放去帶負(fù)載的時候，放大器就會因?yàn)椴环€(wěn)定而極易發(fā)生振蕩。
     導(dǎo)致運(yùn)放穩(wěn)定性問題的最常見原因是輸出端的電容，常見的電容負(fù)載的電路包括：電容、MOSFET、電纜線、高速光耦等，這些容性負(fù)載不能直觀看到具體的容值，所以在設(shè)計中一定要檢查運(yùn)放輸出端是否有連接到上述這幾種容性負(fù)載。
     本文將討論為什么容性負(fù)載測試會導(dǎo)致穩(wěn)定性問題，并且將會給出一種使用隔離電阻來進(jìn)行補(bǔ)償?shù)慕鉀Q方案。
     1、通過相位裕度的大小判斷電路穩(wěn)定性的方法      ①相位裕度及增益裕度的概念
     相位裕度：放大器開環(huán)增益與頻率曲線中，180°的相位與開環(huán)增益下降至單位增益處的相位之差的絕對值。
     增益裕度：放大器開環(huán)增益與頻率曲線中，180°的相位處的增益與放大器開環(huán)增益下降至單位增益處的增益之差的絕對值容性負(fù)載測試。
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